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继电保护测试仪开入量原理简析与接线方法
发布时间:2019/11/21澳门新莆京娱乐网站

进行继电保护装置测试时,继电保护测试仪的开入量与保护装置动作与否、动作时间等息息相关。 现场试验经常会出现继电保护跳了,但继保测试仪未收到动作接点,检查开入接线、保护动作均良好,单独短接开入量进行测试时也显示正常。 针对此类问题,我们可以从开入量的原理入手进行分析。

  △ 图1  开入量端子原理图    

       △ 图2  无电位接点            △ 图3 带电位接点
图1以开入A举例说明,其他路开入量与开入A原理相同,并共用电源和COM端。 设图中电压源电压为 U1,图1中O1为光耦,光耦负边通至测试装置主板,当光耦由通变断或由断变通,即光耦的通断状态有变化时,测试仪会记录光耦状态变化瞬间的时刻。

此电路的工作原理: O1最小导通电流为Imin,最大工作电流为Imax,回路电流为I,当I≥Imin时,O1导通,I<Imin时,O1不通,当I>Imax时,电路烧坏。 下面我们以不带电位接点(图 2)和带电位接点(图3)两种情况进行说明。

一、不带电位接点:

 
 

直接从保护装置跳闸端子接线,未引入直流电源回路。 试验时可能会出现两种接法:

1、取1、2两点接入测试装置的开入量COM、A,由于无电位,两点接线可以任意交换。 此时,若开关为分,电路开路, I=0,光耦不通。 当保护装置给出跳闸信号时,图中开关会由分到合,此时 ,(U1、R1、R2的值固定)光耦导通,测试装置记录动作。 此种接法进行测试时通常不会出现异常。

2、当从1、3两点接入时,回路中多串入一个电阻R,此时 ,电流I的大小取决于R,R越大,I越小,当R足够大导致I<Imin时,光耦不通,测试仪无法检测到动作。 但实际上测试仪无故障、保护装置无故障,而是接点选点不对。

二、带电位接点

 
 
当保护装置已经接入系统,且系统直流系统带电,此处假定+KM与-KM之间的电压为U2,方向为上正下负。 此时,测试装置的 COM必须接到正电位电上,若接反,不论怎么接线,光耦始终处于导通状态,与保护是否跳闸无关,所以必须得排除。 正常接线下可能会出现多种接法,下面以 3种举例进行分析:
1、COM接点1,A接点2,此种情况开关未闭合时电流 ,其中U2为系统电压,110V或220V,U1为测试装置内部电压,一般为24V,此时电流I<0,光耦不通。 保护跳闸,开关闭合时,开关两端电压为 0V,此时电流 ,光耦导通,测试装置记录动作。

2、COM接点1,A接点3,此种情况开关未闭合时电流 ,光耦不通。 当保护跳闸,开关闭合时,开关两端电压为 0V,此时电流 ,光耦还是不通,测试装置无法记录动作,因此此种接法错误。

3、COM接点2,A接点3,此种情况开关未闭合时,电流 ,若R较小,能使I≥Imin,则光耦导通,当保护跳闸,开关闭合时,电阻R上的电压UR=U2,电流 ,光耦不通。 这样光耦由通变为不通,状态有变化,测试装置能正常记录动作时间。 R较大,使得开关未闭合时电流 ,光耦不通,此种情况无论开关是否闭合,光耦均不通,测试装置无法正常记录保护动作。 因此此种接法和不带电位的第二种接法一样,能否正常测试均取决于 R的大小,一般不建议采用。

除此之外,还有其他接线方法以及纯电位高低的测试,其原理和以上列举的基本类同,不再赘述。

综上所述,现场试验时,无论是不带电位接点还是带电位接点,接线尽量采用两种情况下列举的第一种接线方式,通常不会出现异常。 无法正常记录时,可以甩开保护接线,在测试装置运行时用短接线直接对 A和COM短接,若测试装置能正常记录动作,则可以排除继保测试仪的故障。

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